Ch1-材料结构基础
复习总纲
本章的核心是建立对电子陶瓷材料从 原子/离子层面 到 微观组织层面 的结构认知。学习路径遵循“理想晶体 → 真实晶体 → 宏观性能”的逻辑链条。
- § 1-1 密堆积与配位数:从最理想化的等径球堆积入手,建立了晶体结构的基本模型,引入了配位数、堆积方式、间隙等核心概念。这是理解一切晶体结构的基础。
- § 1-2 鲍林规则:从理想模型进入到更真实的离子晶体,用五条半经验规则解释了为什么离子会“选择”某种特定的排列方式,核心是能量最低和电中性原则。
- § 1-3 电子陶瓷的典型结构:将前两节的理论应用于实际的陶瓷材料,分类介绍了如岩盐、钙钛矿等重要结构,是理论与实践的结合。
- § 1-4 电子陶瓷的显微结构:视角从原子尺度的“晶体结构”拉高到微米尺度的“显微结构”,探讨晶粒、晶界、气相等真实陶瓷中存在的组织,并强调了**“组分-工艺-结构-性能”**这一材料学核心思想。
- § 1-5 电子陶瓷的结构缺陷:回归到原子尺度,打破“理想晶体”的假设,引入点、线、面缺陷的概念,特别是点缺陷。这是理解半导体、离子导电等性能的关键。
- § 1-6 电子陶瓷的固溶结构:探讨当“杂质”或“掺杂”进入晶体后会发生什么,即固溶体的形成。这是材料改性、设计新材料的基础。
§ 1-1 密堆积与配位数
深度讲解与思考
本节是晶体学的基础,核心思想是:在无方向性键(金属键、离子键)的作用下,原子/离子会像弹珠一样,尽可能地紧密堆积在一起,以达到空间利用率最高、能量最低的稳定状态。
1. 等径球的密堆积:
- 两种最密堆积方式:
- 六方密堆积 (hcp):堆积顺序为 "ABAB..."。第三层(A)球完全重复第一层(A)球的位置。
- 面心立方密堆积 (fcc):堆积顺序为 "ABCABC..."。第三层(C)球位于全新的位置,到第四层才重复第一层(A)的位置。
- 图像知识点 (Slides 5, 7):PPT中的图像直观展示了这两种堆积方式的层状结构。关键在于理解B层相对于A层的位置是固定的,而第三层是选择落在A层正上方(hcp)还是落在新的C位置(fcc)。
- 关键参数:
- 配位数 (CN):对于hcp和fcc,中心原子都与12个原子紧邻(本层6个,上下层各3个),因此CN = 12。
- 空间占用率(密堆度):均为74.05%,这是等径球能达到的最大堆积密度。
- 晶胞原子数:hcp晶胞含2个原子,fcc晶胞含4个原子。
- 非最密堆积:
- 体心立方 (bcc):它不是最密堆积,配位数为8,空间占用率为68.02%。虽然密度较低,但在很多金属中也很常见。
2. 密堆积中的间隙:
原子堆积后留下的空隙至关重要,因为在离子晶体或合金中,较小的原子会填充到这些间隙中。
- 图像知识点 (Slide 10):该图清晰地展示了两种基本间隙。
- 四面体间隙 (T):由4个球包围,形状为四面体。
- 八面体间隙 (O):由6个球包围,形状为八面体。